사용초기에는 제품에 문제가 발생하기 쉽고, 반도체 장치의 안정성을 향상시키기 위해서는 칩노화, 회로기판 노화 및 반제품을 포함하여 장치를 정지상태로 만드는노화실험이 필요합니다.