1.전자회로 > 노화시험

# 노화시험

(1) 배경 소개 :

사용초기에는 제품에 문제가 발생하기 쉽고, 반도체 장치의 안정성을 향상시키기 위해서는 칩노화, 회로기판 노화 및 반제품을 포함하여 장치를 정지상태로 만드는노화실험이 필요합니다. 완성된 기계의 숙성실험. 이 실험에서는 제품의 온도변화를 모니터링해야 합니다. 노화는 고온 및 저온노화 및 온라인 노화시험으로 구분됩니다. 인큐베이터에서 고온 및 저온 에이징을 수행해야 합니다. 온라인 노화는 지속적인전원 켜기작업을 위해 장비를 절약하기만 하면 되며 일반적으로 생산노후화를 위해노화된 공간에 배치됩니다.

(2) 고객이 해결해야 할 문제 :

숙성 과정에서 제품의 온도를 모니터링하고 온도 변화 과정을 확인하고 제품 성능을 확인하십시오.

*노화 과정 중 제품고장으로 인한 화재를 예방합니다.

(3) 사례 분석 :

연장 된 노화 동안 보드의 온도 변화를 관찰하십시오.

(4) Fotric의 기능적 특성, 권장 구성 :

-Fotric220 시리즈는 핸드헬드 기반의 강력한 온라인기능을 제공합니다. 화면분할 설계 및 바이패스 전원공급장치로 인해 220은 장기 온라인모니터링에 사용될 수 있습니다.

-샘플링 빈도를 정의하고 데이터 양을 줄일 수 있습니다.

-터치기능으로 문제가 발생한 단계의 전자파영상을 자동으로 녹화할 수 있어 후기분석에 편리하다.

온도장애 경보기능은 장비고장으로 인한 화재와 같은 다른문제를 방지합니다.

225 또는 226은 회로 설계 연구 및 노화 모니터링에 권장됩니다.

노후화 된 방의 화재 모니터링 만 수행하는 경우 Fotric 800 시리즈를 사용할 수 있습니다.

(5) 고객이 문제를 해결할 필요가 있는 것 :

-전자 회로, 칩 및 전기 장비의 모든 연구 개발 및 제조;

-전자회로와 관련된 모든 대학 및 연구기관;

-재료, 타이어, 기계구조 등 도 노화시험이 필요합니다.